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經(jīng)驗之談:如何排查低壓差測量中的誤差問題

發(fā)布時間:2015-11-12 責(zé)任編輯:sherry

【導(dǎo)讀】許多數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)直接連接傳感器。與所有測量系統(tǒng)一樣,你必須找出誤差,并盡最大可能地減小這些誤差。由于熱漂移、EMI/RFI、內(nèi)部噪聲、走線、接地和屏蔽造成的誤差都會對總的測量誤差產(chǎn)生影響。幸運的是,如果你知道引起這些誤差的原因,你可以最大限度地減小這些誤差。
 
我們在本文案例中使用的是instruNet i423數(shù)字化儀,這是專為直接連接許多不同傳感器而設(shè)計的多種系統(tǒng)之一,它可以連接比如電壓傳感器、電流傳感器、電阻傳感器、稱重傳感器、應(yīng)變計、熱電偶和熱電阻(RTD)。你也可以將本文所述的技術(shù)應(yīng)用于其它數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)。
 
我們實驗使用的稱重傳感器可以測量0到2kg的力,內(nèi)部包含4個350Ω電阻,這些電阻綁定在受壓會彎曲的金屬板上。金屬板的彎曲會改變電阻值。你可以將這個稱重傳感器想像為一個源阻抗為350Ω、接收3.3V DC激勵電壓并產(chǎn)生偏移量為1.65V DC的±10mV信號的傳感器。數(shù)據(jù)采集差分放大器看到的就是±10mV,我們將評估毫伏級誤差。本文中的所有圖片都是來自這個裝置的實際測量。圖1是稱重傳感器的原理圖。從電氣角度看,稱重傳感器與應(yīng)變計和mV/V壓力傳感器是一樣的。
應(yīng)變計實質(zhì)上是一個有著4個電阻的橋電路,電路兩端的電壓會隨著金屬板彎曲變形而發(fā)生改變
圖1:應(yīng)變計實質(zhì)上是一個有著4個電阻的橋電路,電路兩端的電壓會隨著金屬板彎曲變形而發(fā)生改變。
 
我們將重點關(guān)注這些誤差來源:
 
耦合進傳感器信號的射頻干擾(RFI)
 
耦合進傳感器信號的50/60Hz電源
 
數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)的內(nèi)部噪聲
 
熱漂移和傳感器不穩(wěn)定性
 
測試裝置
 
正常情況下,傳感器通過一根屏蔽電纜連接到數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)。然而出于演示射頻干擾(無線電波耦合進信號線)的目的,我們切斷了IN+導(dǎo)線,并引入了一個入侵信號和一個函數(shù)發(fā)生器。函數(shù)發(fā)生器的5Vrms輸出連接到一根圍著傳感器IN+導(dǎo)線繞了10圈的裸導(dǎo)線。我們還在函數(shù)發(fā)生器輸出端串聯(lián)了一個270Ω的電阻,便于通過入侵線圈產(chǎn)生18mA的電流(5Vrms/270=18mArms).
 
我們還在第二個測量通道上連接了一個假的傳感器,這個傳感器與稱重傳感器有相同的電氣特性。它包含4個在電纜末端懸浮于空中的獨立薄膜電阻,函數(shù)發(fā)生器也采用與稱重傳感器相同的方式連接。源阻抗越高,耦合進來的射頻干擾就越多。因此,假傳感器具有與稱重傳感器相同的350Ω源阻抗。第二個通道用于識別來自稱重傳感器自身內(nèi)部的少許不穩(wěn)定性。
 
第三個通道用一段位于數(shù)據(jù)采集IN+與IN-端子之間以及GND與IN+之間的2cm長導(dǎo)線接地。這第三個通道用于確定內(nèi)部系統(tǒng)噪聲和數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)本身的熱漂移。所有實驗都是用測量范圍是±10mV的instruNet i423卡完成,并使用instruNet World Oscilloscope/Strip圖表軟件。這種卡提供軟件可選的6Hz和4000Hz雙極模擬低通濾波器、軟件可選數(shù)字濾波器和軟件可選積分(平均)功能。
 
許多稱重傳感器制造商推薦使用10V的激勵電壓,這將在稱重傳感器上消耗約285mW的功率(10^2/350=0.285)。這么大的功耗將產(chǎn)生熱量和溫度漂移。因此我們選擇更低的3.3V電壓,對應(yīng)31mW更小的功耗。
 
射頻干擾耦合進傳感器信號
 
射頻干擾(RFI)所涉及的無線電波將通過空氣耦合進導(dǎo)線。這可以用麥克斯韋方程來解釋,即導(dǎo)線#1中電流的變化將產(chǎn)生一個磁場流過導(dǎo)線#2做成的環(huán),并在導(dǎo)線#2中感應(yīng)出一個電流,然后在經(jīng)過電阻后轉(zhuǎn)換為電壓。RFI效應(yīng)隨源阻抗的增加而增強(源信號強度不足以抵抗RFI);因此,高的源阻抗和低電平測量是最大的挑戰(zhàn)。這里所示的實驗將向你解釋信號開關(guān)和正弦信號如何耦合進你的信號。
 
On/Off開關(guān)RFI:當(dāng)一根傳感器導(dǎo)線附近的入侵信號發(fā)生由低到高的轉(zhuǎn)換時,會有一個向上的尖峰耦合進導(dǎo)線;當(dāng)入侵信號發(fā)生由高到低的轉(zhuǎn)換時,又會有一個向下的尖峰耦合(或者如果RFI磁通量是相反方向時與此相反)。這正是我們有時在數(shù)字化的波形上看到尖峰的原因——它們與入侵的數(shù)字信號或設(shè)備的導(dǎo)通關(guān)斷有關(guān)。
 
正弦波RFI:另外,正弦波可以通過空氣傳播,并將另一個相同頻率的正弦波耦合進有用信號。調(diào)幅收音機接近1MHz,調(diào)頻收音機接近100MHz,兩種正弦波眾所周知都會進入實驗室或工廠。
 
如何檢測RFI
 
搭建你的數(shù)據(jù)采集系統(tǒng),盡可能快地從一個通道進行數(shù)字化,保持所有的模擬和數(shù)字低通濾波器處于關(guān)閉狀態(tài),積分(平均)功能也處于關(guān)閉狀態(tài)。然后以不同的水平刻度(比如全屏下100?s至50ms)觀察結(jié)果波形。即使你最終實驗是要以不同采樣率并在積分/濾波打開的條件下數(shù)字化多個通道,也請這樣做。你也許感到很有必要打開濾波功能使信號看上去好點。但目前暫時要抵抗住這種誘惑,專注于更多地了解你的信號。理解測量誤差的技巧是暫時忘掉你的最終目標(biāo),并做一些簡單的實驗。圖2顯示了來自200Hz方波的350 ?V尖峰,其中我們以166ksamples/s的速度從350Ω稱重傳感器數(shù)字化了8k樣本。
來自方波的高頻分量可能耦合進你的信號,產(chǎn)生有害的干擾。
圖2:來自方波的高頻分量可能耦合進你的信號,產(chǎn)生有害的干擾。
 
尋找干擾源
 
在重復(fù)性的數(shù)字化示波器軌跡的同時,將附近的設(shè)備打開和關(guān)閉(比如機器,泵,電源),觀察數(shù)字化波形上的變化。如果你關(guān)閉了一臺附近的電源,并注意到尖峰消失了,那么說明這個電源耦合進了你的傳感器。
 
入侵信號通過空氣傳播并耦合進了你的傳感器電纜嗎?抑或它通過你的地線傳輸?嘗試移動你的傳感器電纜,觀察對數(shù)字化波形的影響。電纜位置影響圖形嗎?如果有影響,那么說明空氣中的射頻干擾正在通過具有不同物理尺寸(不同磁通量)的環(huán)線(你的電纜)傳輸。由于移動電纜而發(fā)生的輻射場改變是空中傳輸射頻干擾的跡象。增加電纜屏蔽可能有用,還可以試試下面討論的其它幾種技術(shù)。
 
電纜/傳感器的地連接到了外部金屬(比如待測設(shè)備)嗎?如果連了,從物理上斷開它,觀察對你信號的影響。如果信號有變化,那么你就知道電流正在流過你的地線,這是數(shù)據(jù)采集地和待測設(shè)備地之間存在的交流信號引起的。這被稱為“地環(huán)路”,通常可以用電氣上隔離傳感器的方法來解決。地之間的交流電壓差通常是由于改變電源引起的,包括改變地回路上的電流以及該地線上的相關(guān)壓降。地之間的典型電壓差是50mVdc加上15mVac。為了用靈敏的數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)測量這種情況,將IN+連接到地#1,將IN-連接到地#2,盡可能快的數(shù)字化一個通道,觀察全屏?xí)r100?s至25ms刻度下的波形。
 
差分放大器共模抑制功能有幫助嗎?數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)都有差分輸入電路,它們測量兩個輸入之間的電壓差。所有差分放大器都有這樣一個參數(shù):對兩個輸入端上的共模信號能夠抑制多少?典型的指標(biāo)是60Hz時抑制80dB。這意味著兩個引腳上60Hz信號的萬分之一被看作差分信號。
 
舉例來說,用裸導(dǎo)線連接IN+和IN-,在IN+和GND之間施加一個60Hz、1Vrms的信號,然后進行數(shù)字化,你將會在IN+和IN-之間看到60Hz 100?Vrms的信號。數(shù)據(jù)采集的一個小秘密是,這種抑制性能每10倍頻將下降20dB,這意味著你在600Hz時可以達到千分之一的抑制,6KHz時是百分之一,60KHz時是十分之一,再高就沒有抑制效果了。數(shù)字開關(guān)(比如尖峰)所涉及的頻率經(jīng)常超過60KHz。因此在許多情況下,放大器共模抑制功能并沒有什么幫助,特別是對數(shù)字開關(guān)引起的射頻干擾而言。
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