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【“源”察秋毫系列】纖維器件及其陣列電學(xué)測(cè)試方案詳解
使用電壓表或SMU源表等測(cè)試設(shè)備(如數(shù)字多用表的電壓測(cè)量檔等),將電壓表的探頭與纖維電學(xué)器件的兩個(gè)輸出電極相連接,確保連接牢固且接觸良好,以減少接觸電阻對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響。當(dāng)纖維電學(xué)器件處于工作狀態(tài)(如受到特定刺激,像壓電纖維器件受到外力作用、光電器件受到光照等)或在特定的電路環(huán)境...
2024-12-02
纖維器件 電學(xué)測(cè)試
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借助支持邊緣 AI 的 MCU 優(yōu)化實(shí)時(shí)控制系統(tǒng)中的系統(tǒng)故障檢測(cè)
本文中將討論集成式微控制器 (MCU) 如何增強(qiáng)高壓實(shí)時(shí)控制系統(tǒng)中的故障檢測(cè)功能。此類 MCU 使用集成神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)處理單元 (NPU) 運(yùn)行卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò) (CNN) 模型,幫助在監(jiān)測(cè)系統(tǒng)故障時(shí)降低延遲和功耗。通過(guò)將邊緣 AI 功能集成到用于管理實(shí)時(shí)控制的同一 MCU 中,可以幫助您優(yōu)化系統(tǒng)設(shè)計(jì),同時(shí)增強(qiáng)整體性能。
2024-12-02
邊緣 AI MCU 實(shí)時(shí)控制系統(tǒng)
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第10講:SiC的加工工藝(2)柵極絕緣層
SiC可以通過(guò)與Si類似的熱氧化過(guò)程,在晶圓表面形成優(yōu)質(zhì)的SiO2絕緣膜。這在制造SiC器件方面具有非常大的優(yōu)勢(shì)。在平面柵SiC MOSFET中,這種熱氧化形成的SiO2通常被用作柵極絕緣膜,并已實(shí)現(xiàn)產(chǎn)品化。然而,SiC的熱氧化與Si的熱氧化存在一些差異,在將熱氧化工藝應(yīng)用于SiC器件時(shí)必須考慮到這一點(diǎn)。
2024-12-02
SiC 柵極絕緣層
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優(yōu)化簡(jiǎn)易PCB電路板的大規(guī)模測(cè)試,提高生產(chǎn)效率
隨著各行業(yè)對(duì)高效完成大批量生產(chǎn)的需求日益增強(qiáng),構(gòu)建穩(wěn)健的測(cè)試策略也變得至關(guān)重要。此篇是德科技署名文章旨在深入探討簡(jiǎn)易電路板生產(chǎn)制造領(lǐng)域中適用的創(chuàng)新測(cè)試方法,力求在保障質(zhì)量的前提下,實(shí)現(xiàn)生產(chǎn)效率的最優(yōu)化。
2024-12-02
PCB 電路板
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貿(mào)澤推出RISC-V技術(shù)資源中心 探索開(kāi)源的未來(lái)
貿(mào)澤電子推出內(nèi)容豐富的RISC-V資源中心,為設(shè)計(jì)工程師提供新技術(shù)和新應(yīng)用的相關(guān)知識(shí)。隨著開(kāi)源架構(gòu)日益普及,RISC-V從眾多選項(xiàng)中脫穎而出,成為開(kāi)發(fā)未來(lái)先進(jìn)軟硬件的新途徑。從智能手機(jī)和IoT設(shè)備,再到高性能計(jì)算,RISC-V正在各行各業(yè)中發(fā)展成為更主流的指令集架構(gòu) (ISA)。
2024-12-02
貿(mào)澤 RISC-V技術(shù)
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智能無(wú)線傳感器設(shè)計(jì)完全指南
本文概述了幾種無(wú)線標(biāo)準(zhǔn),并評(píng)估了低功耗藍(lán)牙? (BLE)、SmartMesh (基于IEEE 802.15.4e的6LoWPAN)和Thread/Zigbee(基于IEEE 802.15.4 的6LoWPAN)在惡劣工業(yè)射頻環(huán)境中的適用性,文中提供了幾個(gè)比較指標(biāo),包括功耗、可靠性、安全性和總擁有成本。SmartMesh時(shí)間同步消耗的功耗較低,并且SmartMesh...
2024-11-29
智能無(wú)線傳感器
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迎機(jī)遇、創(chuàng)發(fā)展,廣州國(guó)際汽車電子&功率半導(dǎo)體技術(shù)盛會(huì),邀您共精彩!
3.1.jpg 2025年11月20-22日,第十二屆廣州國(guó)際汽車電子技術(shù)展覽會(huì),將于廣州保利世貿(mào)博覽館盛大舉辦!
2024-11-29
AUTO TECH China
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