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仿真看世界之SiC單管并聯中的寄生導通問題

發(fā)布時間:2022-07-12 來源:英飛凌 責任編輯:wenwei

【導讀】這篇微信文章,其實構思已久。為了有所鋪墊,已在2020和2021發(fā)布了兩篇基礎篇。2022,讓我們再次聊聊在SiC單管并聯中的寄生導通問題。


這篇微信文章,其實構思已久。為了有所鋪墊,已在2020和2021發(fā)布了兩篇基礎篇:


●    2020《仿真看世界之SiC單管的寄生導通現象》

●    2021《仿真看世界之SiC MOSFET單管并聯均流特性》


2022,讓我們再次聊聊在SiC單管并聯中的寄生導通問題。


特別提醒:仿真只是工具,仿真無法替代實驗,仿真只供參考。


在展開仿真的宏大序章之前,我們不妨先回顧之前的一些小結論:


2020《仿真看世界之SiC單管的寄生導通現象》


●    機理澄清:寄生導通現象來自米勒電容和源極電感的綜合影響。


●    封裝影響:事物皆有兩面。TO247-3封裝內的功率源極電感也處于驅動回路中,導致封裝內外Vgs波形差異容易引起誤判,同時增加了開關損耗,但是好處是降低了開關速度和di/dt,客觀上也削弱了源極電感對寄生導通的風險。TO247-4封裝的開爾文結構,解耦了功率回路與驅動回路的源極電感,封裝內外Vgs一致(表里如一),雖然減少了開關損耗,但是增加了開關速度和di/dt,這在客觀上也加劇了源極電感對寄生導通的風險。總的來說,TO247-4還是更優(yōu)的選擇。


2021《仿真看世界之SiC MOSFET單管并聯均流特性》


●    在TO247-4pin的SiC單管并聯的均流特性仿真中,主回路的源極電感Lex,對器件均流的影響最為顯著,同時還會形成源極的環(huán)流。


●    由源極電感Lex引起的器件均流差異,用輔助源極電阻Rgee和門級電容Cgs去補救,其收效有限。因此,在SiC并聯布局初始,一定要盡可能保證源極電感Lex一致。


為了搞清楚SiC單管并聯中的寄生導通問題,我們將繼續(xù)通過仿真,層層深入:


●    SiC單管并聯中的寄生導通與源極環(huán)流的關系

●    既然“源極環(huán)流擋不住”,我們又該何去何從?


01 選取仿真研究對象


SiC MOSFET: IMZ120R045M1(1200V/45mΩ)、

TO247-4pin、兩并聯


Driver IC:

1EDI40I12AF、單通道、磁隔離、

驅動電流±4A(min)


02 仿真電路Setup


如圖1所示,基于雙脈沖的思路,搭建雙管并聯的主回路和驅動回路,并設置相關雜散參數,環(huán)境溫度為室溫。


1. 外部主回路


直流源800Vdc、母線電容Capacitor(含寄生參數)、母線電容與半橋電路之間的雜散電感Ldc_P和Ldc_N、雙脈沖電感Ls_DPT


2. 并聯主回路


整體為半橋結構,雙脈沖驅動下橋SiC MOSFET,與上橋的SiC MOSFET Body Diode進行換流。下橋為Q11和Q12兩顆IMZ120R045M1,經過各自發(fā)射極(源極)電感Lex_Q11和Lex_Q12,以及各自集電極(漏極)電感Lcx_Q11和Lcx_Q12并聯到一起;同理上橋的Q21和Q22的并聯結構也是類似連接。


3.并聯驅動回路


基于TO247-4pin的開爾文結構,功率發(fā)射極與信號發(fā)射級可彼此解耦,再加上1EDI40I12AF這顆驅動芯片已配備OUTP與OUTN管腳,所以,每個單管的驅動部分都有各自的Rgon、Rgoff和Rgee(輔助源極電阻),進行兩并聯后與驅動IC的副邊相應管腳連接。


4. 驅動部分設置


通過調整驅動IC副邊電源和穩(wěn)壓電路,調整門級電壓Vgs=+15V和Vgs=0V~-3V,然后設置門極電阻Rgon、Rgoff,和輔助源極電阻Rgee默認設為0Ω(1pΩ),外加單管門極與驅動IC之間的PCB走線電感Lgon/Lgoff/Lgee等。


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圖1.SiC MOSFET并聯(驅動一推二)的雙脈沖仿真Setup示意圖


03 SiC單管并聯中的寄生導通與源極環(huán)流的關系


在仿真之前,將圖1適當變換到圖2,再結合TO247-4開爾文Pin的結構,讓大家看清楚所謂的源極環(huán)流位置。綠色Loop TOP1/2為并聯上管的環(huán)路,藍色Loop BOT1/2為并聯下管的環(huán)路。以并聯上管的Loop TOP為例,Loop TOP1主要由主功率的封裝外部源極電感Lex、封裝內部源極電感(圖中未畫出)和輔助源極電感Lgee等組成,Loop TOP2主要由驅動門級電阻Rg和電感Lg以及輔助源極電阻Rgee和電感Lgee等構成。不難想見,只要有一點主回路的源極電感Lex或電流di/dt差異的“風吹草動”,都會被放大并投射到對應的環(huán)路中,直接或間接影響并聯器件內部的門級Vgs電壓。


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圖2.由圖1變換的并聯上管和下管的環(huán)路示意圖


具體過程,我們通過仿真舉例分析:[下管雙脈沖,上管關斷]


門級設置Vgs=+15V/-3V,Q1和Q2的并聯源極電感先設為8nH,然后再將Q11和Q21的Lex電感改為5nH,如圖3所示,制造并聯的源極電感Lex的差異,看開關波形的變化。


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圖3.并聯仿真的電感與電阻設置


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圖4.關斷過程仿真波形


如圖4所示:關斷過程的仿真波形,虛線為并聯支路的源極電感Lex皆為8nH的波形,實線為并聯支路其中Q11和Q21的Lex=5nH后的波形。


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圖5.開通過程仿真波形


如圖5所示:開通過程的仿真波形,虛線為并聯支路的源極電感Lex皆為8nH的波形,實線為并聯支路其中Q11和Q21的Lex=5nH后的波形。


由上述開關過程的仿真可知,源極電感除了對自身Q11/Q12的Id和Esw特性,還會顯著影響對管Q21/Q22 的Vgs電壓尖峰(undershoot和overshoot),尤其是overshoot的部分,如圖5所示,不僅將Q21/Q22的Vgs電壓尖峰抬高了2V,同時還引起了Vgs的持續(xù)振蕩。


為了驗證源極環(huán)流對上述overshoot的惡劣影響,我們又增加了一組仿真,將上管并聯的驅動方式,由一驅二,改為單獨一驅一,下管維持不變,以此切斷上管并聯的環(huán)路,如圖6所示:


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圖6.上管改為單獨一驅一的并聯驅動方式


22.png圖7.僅上管改為單獨一驅一的并聯驅動方式后的開通波形


圖7中,虛線為并聯支路的源極電感Lex皆為8nH的波形,實線為并聯支路其中Q11和Q21的Lex=5nH,且Q12和Q12的Lex=8nH的波形。源極電感Lex的差異,在獨立驅動的模式下,幾乎沒有抬高overshoot電壓尖峰。對比圖5和圖7,當切斷上管的源極環(huán)路之后,overshoot波形的尖峰和振蕩都得到了明顯的改善。


為了進一步對比說明,再補充一組上下管的并聯都改為單獨驅動的仿真與波形,如圖8和圖9所示:


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圖8.上下管皆為單獨一驅一的并聯驅動方式


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圖9 上下管皆為單獨一驅一的并聯驅動方式的開通波形


圖9中,虛線為并聯支路的源極電感Lex皆為8nH的波形,實線為并聯支路其中Q11和Q21的Lex=5nH,且Q12和Q12的Lex=8nH的波形。波形結論與圖7類似,由于下管也采用獨立的并聯驅動模式,下管的電流均流和損耗差異也得到了非常好的控制。


因此,綜合上述的仿真波形對比與分析可知:在SiC單管并聯時,由于并聯電路中源極回路的存在,當源極電感Lex有差異時,就會引起形成源極環(huán)流,抬高overshoot電壓尖峰,進一步增加了Vgs寄生導通的風險。與此同時,該源極環(huán)流,也會對自身Vgs產生影響,進而影響電流Id的均流和損耗Esw的差異。


04 既然“源極環(huán)流擋不住”,我們又該何去何從?


由上可知,在SiC單管的并聯應用中,無論是均流還是寄生導通的惡化,都是源極回路和環(huán)流“惹的禍”,尤其在普遍的一驅多的并聯方式下,幾乎“無處可逃”。那么在實際應用中,既然“源極環(huán)流擋不住”,我們又該何去何從,將寄生導通風險降低呢?


策略1


盡可能做到Lex電感的對稱


在并聯的PCB布局或母排設計時,盡可能做到器件外部源極電感的對稱性。對于復雜的多并聯Case,可利用有限元的工具(如Q3D)進行雜散電感提取以輔助優(yōu)化設計。


策略2


增加一些抑制與補救的措施


我們先通過仿真看下幾種常見措施的效果:


   ○ 采用單獨驅動模式


單獨驅動模式,相比一驅二的驅動方式,可以從根本上切斷源極環(huán)路,將源極環(huán)流與寄生導通徹底解耦(如圖8和圖9所示),但也存在一些不足:例如,多個驅動IC導致成本上升,不同驅動IC的輸出延遲時間差異導致驅動不同步等,尤其對于SiC這樣的高速器件,尤須謹慎。


   ○ 適當增加門級Cgs電容


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圖10.增加門級Cgs電容的仿真Setup參數設置


仿真Setup參數設置如圖10所示,令并聯Lex的差異為5nH和8nH,觀察增加門級Cgs電容前后的開通波形變化,如圖11所示:虛線為無Cgs電容,實線為有Cgs電容的開通波形。


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圖11.門級增加2.2nF電容前后的開通波形對比


由上,可以看到Cgs以降低開通速度,增加Eon損耗為代價,將上管Vgs的overshoot電壓尖峰從2V降低到0V,同時也大幅降低了Vgs電壓振蕩,對于寄生導通的抑制效果還是不錯的(但是對于Eon并聯差異的影響幾乎沒有)。


   ○ 合理搭配輔助源極電阻電感


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圖12.設置輔助源極電阻Rgee參數舉例1


仿真Setup參數設置如圖12和14所示,令并聯Lex的差異為5nH和8nH,觀察配置了輔助源極電阻Rgee前后的開通波形變化。其中圖13:虛線為無Rgee,實線為有Rgee后的開通波形,輔助源極電阻Rgee反而推高了overshoot電壓;圖15為優(yōu)化輔助源極電感Lgee前后的開通波形,虛線為Lgee=20nH,實線為Lgee=5nH,電感降低可以適當降低overshoot電壓尖峰。


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圖13.增加輔助源極電阻前后的開通波形對比1


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圖14.優(yōu)化輔助源極電感Lgee參數舉例2


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圖15.優(yōu)化輔助源極電感Lgee參數前后的開通波形對比2


如果適當增加輔助源極電阻與門級電阻比例,效果如何呢?這里又補充了一組仿真對比,如圖16和17所示,從波形來看,基本與之前的兩組仿真結果類似。


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圖16.增加輔助源極電阻Rgee和電感Lgee參數舉例3


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圖17.增加輔助源極電阻Rgee和電感Lgee前后的開通波形對比3


結合上述仿真波形可知,輔助源極電阻Rgee和電感Lgee對于開通時刻的寄生導通抑制效果一般,甚至Lgee電感控制不好,還會抬高overshoot電壓尖峰,增加并聯寄生導通的風險,同時對于Eon差異也是無所助益。


   ○ 采用帶米勒鉗位的驅動IC


為了顯出米勒鉗位的影響,我們對參數(Rg和Vgs電壓)進行了適當微調,同時選擇了英飛凌1EDI30I12MF(含米勒鉗位功能),設置驅動電壓Vgs=15V/0V,如下圖18和19所示:


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圖18.米勒鉗位仿真的參數設置


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圖19.米勒鉗位仿真的電路示意圖(上管部分)


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圖20.使能米勒鉗位前后的開通仿真波形

(米勒鉗位回路電感Lx_clamp=2nH)


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圖21.米勒回路電感Lx_clamp從2nH到5nH前后的鉗位效果仿真對比


結合圖20和圖21中的波形可知,米勒鉗位能一定程度抑制并聯時的overshoot電壓尖峰,但是無法控制Vgs振蕩,同時需要控制好米勒鉗位回路中寄生電感大小,稍微大一些,也可能導致抑制效果減半,甚至變的更差。


   ○ 在門級增加共模電感


門級增加共模電感的相關參數設置和電路,如下圖22所示:驅動電壓Vgs=15V/0V


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圖22.門級增加共模電感仿真參數舉例


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圖23.門級增加共模電感仿真電路示意圖


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圖24.增加門級共模電感前后仿真的開通波形


由圖24的波形所示,在增加門級共模電感(uH級)前后,虛線為無共模電感,實線為增加了共模電感,可以明顯看到門級共模電感不僅可以顯著改善overshoot的Vgs電壓尖峰和振蕩,還能有效控制均流和縮小Eon的差異,效果非常好。


   ○ 在功率源極增加耦合電感


功率源極增加耦合電感的仿真相關參數設置和電路,如下圖所示:驅動電壓Vgs=15V/0V


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圖25.功率源極增加耦合電感仿真參數舉例


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圖26.功率源極增加耦合電感電路示意圖


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圖27.功率源極增加耦合電感前后的仿真開通波形


由圖27所示,功率源極增加耦合電感(uH級別)后,無論是Vgs的overshoot的電壓尖峰還是并聯的電流差異,都得到了幾乎完美的解決!


05 SiC單管并聯中的寄生導通問題小結


綜合上述的仿真分析,大致結論如下圖28所示:


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圖28.SiC單管并聯中的寄生導通問題小結


來源:英飛凌,作者:張浩



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