中心議題：

• 連接器互調(diào)測量及產(chǎn)生原因
• 測量數(shù)據(jù)與計算數(shù)據(jù)的對比

在微波網(wǎng)絡(luò)中，同軸連接器是引起互調(diào)的主要來源。同軸連接器的非線性特性是引起互調(diào)的主要原因。準(zhǔn)確確定同軸連接器的無源互調(diào)對整個射頻系統(tǒng)設(shè)計有重大的意義。

目前大多數(shù)的連接器生產(chǎn)廠家采用的測試方法都是一起測試兩個同軸連接器，具體辦法是根據(jù)需要測試的連接器制作一個圓桶狀工裝，然后將待測量的連接器的內(nèi)導(dǎo)體鋸短使之與外面的介質(zhì)相齊平， 將兩個連接器的內(nèi)導(dǎo)體互相連接安裝在工裝里，一端接互調(diào)儀，另一端接低互調(diào)負(fù)載，測量兩個連接器級聯(lián)的互調(diào)值。這種測試方法有三個缺點：

(1)對不同的連接器要制作不同的工裝，程序比較麻煩，耗時長；

(2)這種測試方法是抽樣測試，雖然在工藝或者其他方面保證了互調(diào)的穩(wěn)定性，但是畢竟不是個個測量，難免存在漏網(wǎng)之魚，這會給用戶帶來困擾；

(3)在這種測試方法中，引入了一個新的接觸面，就是內(nèi)導(dǎo)體對內(nèi)導(dǎo)體的平面，這對測試系統(tǒng)的殘余互調(diào)會造成影響，但是很難確定影響的大小?；趥鹘y(tǒng)的測試方法的種種缺點，本文提出一種新的連接器的互調(diào)測試方法——開路測試法。

這種測試方法是讓連接器的一端開路，另一端接互調(diào)儀。這種方法可以在不破壞同軸連接器的基礎(chǔ)上確定同軸連接器的無源互調(diào)值。

本文首先建立一個連接器的測試模型，然后根據(jù)這個模型，利用矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀分別測量連接器模型在開路和接負(fù)載兩種情況下的負(fù)載反射系數(shù)和源反射系數(shù)在不同頻率的值。利用這些數(shù)據(jù)就可以計算出微波無源網(wǎng)絡(luò)中同軸連接器在網(wǎng)絡(luò)中開路和接負(fù)載兩種情況下的互調(diào)。最后，用互調(diào)分析儀測量連接器的互調(diào)值驗證了這種方法的有效性。

1 互調(diào)測量及產(chǎn)生原因

本文中所有PIM的測量都是采用Jonitcom公司的PIM分析儀，外型如圖1所示。其簡化的測量系統(tǒng)圖如圖2所示。

該系統(tǒng)中兩個大功率載頻f1和f2通過雙工濾波器發(fā)射到DUT，終端接50 Ω負(fù)載。PIM產(chǎn)生的雜散信號在DUT中產(chǎn)生，并在兩個方向傳播——“前向”到匹配負(fù)載，“反向”到雙工濾波器。發(fā)射激勵信號的頻率和被測的IM產(chǎn)物的頻率由雙工濾波器的TX和RX通道決定。接收機(jī)測量反向傳播的IM波功率。

PIM測試分為兩種，一種是傳輸測試法，如圖3所示，另一種是反射測試法，如圖4 所示。本文采用反射法測量，發(fā)射功率均為43 dBm。當(dāng)載頻為f1和f2，測量的IM產(chǎn)物的頻率為2f1-f2。

[page]

研究發(fā)現(xiàn)連接器中的非線性失真產(chǎn)生于沿著連接器的方向上的某一個特殊點(很象適配器上的金屬和金屬的連接接點)。在這個基礎(chǔ)上，對被測器件分析。

DUT非線性產(chǎn)生的IM形成兩個電壓波：為反向傳播IM電壓波，它由DUT的反向端面發(fā)出；為前向傳播IM電壓波，產(chǎn)生于DUT的前向端面。如圖5所示。電長度lback，lDUT，lfront決定PIM的值。

lfront為DUT反向斷面到DUT內(nèi)部第一個非線性點的距離，lDUT為DUT中第一個非線性點到最后一個非線性點之間的距離，lback為最后一個 非線性點到DUT前向端面之間的距離。源Vfront和Vback表示出現(xiàn)在DUT端面的測量系統(tǒng)的殘余IM以及負(fù)載的電長度lload和負(fù)載阻抗 Zload。

不同的電長度lback，lDUT，lfront也對應(yīng)著不同的反射系數(shù)，為了便于分析，引入圖6的模型。源反射系數(shù)，負(fù)載反射系數(shù)包含的信息不但表明了被測器件的各種電長度，還表明了在不同負(fù)載下的匹配狀態(tài)。

通過上面的討論，所有IM源的電壓在相位上疊加，在點源上形成的V(i(f))可以用N級泰勒級數(shù)近似表示：

那么PIM產(chǎn)生的功率的表達(dá)式為：




[page]

2 測量數(shù)據(jù)與計算數(shù)據(jù)的對比

為了驗證該方法的有效性，本文給出了兩個頻段的PIM值的計算與測量結(jié)果對比。

頻段l：800 MHz的通信系統(tǒng)的發(fā)射頻段為869～894 MHz，接收頻段為824～849 MHz。如圖7所示。

同理得到第二個頻段：1 800 MHz通信的發(fā)射頻段為1 805～1 880 MHz，接收頻段為1 730～1 880 MHz。如圖8所示。

在800 MHz頻段內(nèi)，測量的接50 Ω負(fù)載的PIM值的范圍是-69．3～-70．5 dBm，差值為1．2 dB，計算的接50 Ω負(fù)載的PIM值的范圍是-68．8～-69．5 dBm，差值為0．7 dB，可以得出計算和測量的值相差很小。測量的開路狀態(tài)的PIM值的范圍是-88．4～-89．2 dBm，差值為O．8 dB計算的開路狀態(tài)的PIM值的范圍是-88．1～-89．1 dBm，差值為1 dB。接負(fù)載和開路，兩者PIM大約差19 dB。

在l 800 MHz頻段內(nèi)，測量的接50 Ω負(fù)載的PIM值的范圍是-119．1～-120．0 dBm，差值為O．9 dB。計算的接50 Ω負(fù)載的PIM值的范圍是-118．1～-120．0 dBm，差值為1．9 dB可以得出計算和測量的值相差很小。

測量的開路狀態(tài)的PIM值的范圍是-109．O～-109．9 dBm，差值為0．9 dB，計算的開路狀態(tài)的PIM值的范圍是-109．8～-110．5 dBm，差值為0．7 dB，接負(fù)載和開路，兩者PIM大約差10 dB。

由以上的分析可知，這種計算方法計算出來的PIM值和真實的PIM值十分接近，并且隨頻率的變化趨勢一致。同時可以看出，在開路的時候所測量的 PIM明顯要比接負(fù)載的時候所測量的PIM要大，增大的PIM值是因為匹配不好所造成，當(dāng)然，相同的負(fù)載狀況在不同的頻率下呈現(xiàn)的匹配狀態(tài)是不一樣的。

3 結(jié)語

本文以連接器模型為基礎(chǔ)，利用負(fù)載反射系數(shù)，源反射系數(shù)估算同軸連接器在微波無源網(wǎng)絡(luò)中的PIM失真值。由此得到在不同負(fù)載下同軸連接器的PIM值。

文中分別計算和測量了在接50 Ω負(fù)載和開路兩個狀態(tài)的PIM值。根據(jù)計算和測量數(shù)據(jù)的對比結(jié)果，由負(fù)載反射系數(shù)，源反射系數(shù)估算同軸連接器在微波無源網(wǎng)絡(luò)中的PIM失真值與真實測量值很吻合，這說明了用負(fù)載反射系數(shù)，源反射系數(shù)估算同軸連接器在微波無源網(wǎng)絡(luò)中的PIM失真值的方法是有效的。提出了一種新的對于連接器互調(diào)的測試方法，使用這種方法測試時不需要對連接器做專門的工裝，而且可以不做破壞性實驗，實現(xiàn)連接器的個個檢驗，而不是傳統(tǒng)測試方案中的抽檢，從根本上保證了連接器互調(diào)的可靠性，真正實行了檢驗的作用。