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干貨

ESD防護(hù)對(duì)我們常用的電子消費(fèi)類終端產(chǎn)品尤為重要。而冬天人體產(chǎn)生的靜電非常強(qiáng)烈而且頻繁，當(dāng)我們接觸手機(jī)、數(shù)碼相機(jī)或MP3等手持電子設(shè)備時(shí)，靜電常常通過人體引入電子設(shè)備中；如果沒有專門的靜電防護(hù)，輕則引起芯片復(fù)位、數(shù)據(jù)丟失、關(guān)機(jī)等現(xiàn)象，重則擊穿芯片造成永久性破壞，給我們的日常生活帶來不必要的麻煩和經(jīng)濟(jì)上的損失！因此為保證整個(gè)系統(tǒng)有較好的ESD防護(hù)能力，外部ESD防護(hù)器件是必不可少的。

防護(hù)觸控面板的靜電放電策略

隨著人機(jī)介面的進(jìn)步，觸控介面已逐步在生活中占了一席之地。產(chǎn)品的輕薄短小，使得生活中的電子設(shè)備變成了隨身必備品。在產(chǎn)品中各式積體電路集縮在極小的空間中，在產(chǎn)品的設(shè)計(jì)及量產(chǎn)流程上，需面臨各種生產(chǎn)環(huán)境的試鏈；而人類生活的環(huán)境千變?nèi)f化，這些人機(jī)介面必需有極高的可靠度，才能滿足在各種環(huán)境、甚至是嚴(yán)苛操作條件下的操作。詳細(xì)閱讀>>

靜電放電抗擾度對(duì)手機(jī)的影響

手機(jī)是無線通信產(chǎn)品中應(yīng)用最廣泛、最貼近生活的數(shù)字蜂窩通信產(chǎn)品。為保證手機(jī)的電磁兼容性能，解決手機(jī)的電磁兼容問題，使得手機(jī)的電磁兼容測(cè)試顯得越來越重要。本文介紹了手機(jī)靜電放電測(cè)試的要求和方法，總結(jié)分析了手機(jī)靜電放電抗擾度試驗(yàn)的主要失效現(xiàn)象和模式，可供手機(jī)靜電放電抗擾度試驗(yàn)及提高手機(jī)抗靜電能力設(shè)計(jì)時(shí)參考。詳細(xì)閱讀>>

靜電放電抗擾度試驗(yàn)

關(guān)于不接地設(shè)備的試驗(yàn)配置，新版標(biāo)準(zhǔn)與舊版標(biāo)準(zhǔn)的配置是相同的。關(guān)鍵是在單次放電時(shí)（無論是空氣的，還是接觸的），試品上的電荷應(yīng)當(dāng)在每次施加靜電放電脈沖之前先行釋放（釋放掉在需要施加靜電放電的金屬點(diǎn)或金屬部位上的電荷）。詳細(xì)閱讀>>

靜電放電保護(hù)

為此防范危險(xiǎn)的最好保護(hù)方法首先應(yīng)了解危險(xiǎn)的性質(zhì)，以及它對(duì)系統(tǒng)的損害方式。通過靜電電位傳感器“EP傳感器”的測(cè)量與生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)應(yīng)采取怎樣的除靜電措施來實(shí)施電子產(chǎn)品的靜電放電保護(hù)，這就是本文研討的思路與重點(diǎn)。首先對(duì)半導(dǎo)體器件的靜電破壞模式作闡述。詳細(xì)閱讀>>

靜電放電保護(hù)時(shí)怎樣維持USB信號(hào)完整性

隨著常見文件的大小持續(xù)增加，高數(shù)據(jù)率也變得越來越重要。在這種等級(jí)的數(shù)據(jù)率，為數(shù)據(jù)線路增加任何電容都可能造成信號(hào)波形失真，導(dǎo)致數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)傳輸?shù)闹袛嗪?或故障。這就對(duì)USB2.0接口上使用的靜電放電(ESD)保護(hù)器件提出了更高的要求。ESD保護(hù)器件在正常數(shù)據(jù)傳輸期間必須對(duì)信號(hào)保持透明狀態(tài)，而在系統(tǒng)級(jí)ESD兼容性測(cè)試或應(yīng)用現(xiàn)場(chǎng)中遭受實(shí)際ESD事件時(shí)，必須使受保護(hù)對(duì)象免受損傷或干擾。如今，設(shè)計(jì)人員面對(duì)著需要找到合適的ESD保護(hù)解決方案，既能保護(hù)敏感線路，又不增加會(huì)導(dǎo)致信號(hào)質(zhì)量降低的電容的挑戰(zhàn)。詳細(xì)閱讀>>

手機(jī)電磁兼容測(cè)試之靜電放電抗擾度試驗(yàn)

本文針對(duì)手機(jī)電磁兼容測(cè)試的靜電放電抗擾度試驗(yàn)中經(jīng)常發(fā)現(xiàn)的問題進(jìn)行了分析，并提出了相應(yīng)的改善手機(jī)電磁兼容性能的建議。詳細(xì)閱讀>>

基礎(chǔ)知識(shí)

靜電放電干擾及其抑制

靜電的產(chǎn)生是因?yàn)椴煌镔|(zhì)的物體互相摩擦?xí)r，正負(fù)電荷分別積蓄在兩種物體上。例如，化纖衣物的摩擦引起的靜電，當(dāng)它們與其他系統(tǒng)接觸時(shí)便會(huì)放電形成靜電放電干擾。其放電電壓可高達(dá)2—30kV。實(shí)驗(yàn)證明，人體所帶的靜電一般為10V—15kV。詳細(xì)閱讀>>

靜電放電防護(hù)的基本原理和原則

靜電放電（Electrostatic Discharge，ESD）指處于不同靜電電位的兩個(gè)物體間的靜電電荷的轉(zhuǎn)移就是靜電放電。這種轉(zhuǎn)移的方式有多種，如接觸放電、空氣放電。靜電放電的危害有很多，如何才能有效的防護(hù)靜電放電？詳細(xì)閱讀>>

EMC靜電放電測(cè)試與預(yù)防

本文先引用EMC標(biāo)準(zhǔn)IEC61000-4-2中靜電放電測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)中的測(cè)試要求，測(cè)試原理，測(cè)試方法，再介紹常見的產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)中對(duì)電子產(chǎn)品的靜電放電要求主要講的是靜電放電對(duì)電子產(chǎn)品的影響，以及一些基本的靜電放電抗擾度的預(yù)防措施...詳細(xì)閱讀>>

當(dāng)今在電子產(chǎn)品設(shè)計(jì)與制造過程中,人們很關(guān)心的是如何迸行電子產(chǎn)品的靜電放電保護(hù)。因?yàn)樗翘岣弋a(chǎn)品的耐受性并關(guān)系影響整個(gè)電子工業(yè)長(zhǎng)期發(fā)展的重要問題，所以靜電破壞與促使靜電放電(ESD)保護(hù)己顯得日益重要。這是因?yàn)殡S著近來零件小型化和半導(dǎo)體高集成化趨勢(shì),其靜電放電而引起的電路或器件的靜電破壞已成為一大隱患的技術(shù)問題。