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計(jì)算隔離式精密高速DAQ的采樣時(shí)鐘抖動(dòng)的簡單步驟

發(fā)布時(shí)間:2021-11-11 來源:ADI,Lloben Paculanan 和 John Neeko Garlitos 責(zé)任編輯:wenwei

【導(dǎo)讀】出于魯棒性、安全性、高共模電壓考量,或?yàn)榱讼稍跍y量中帶來誤差的接地環(huán)路,許多數(shù)據(jù)采集(DAQ)應(yīng)用都需要隔離DAQ信號(hào)鏈路徑。ADI的精密高速技術(shù)使系統(tǒng)設(shè)計(jì)人員能夠在相同的設(shè)計(jì)中實(shí)現(xiàn)高交流和直流精度,無需犧牲直流精度來換取更高的采樣速率。然而,為實(shí)現(xiàn)高交流性能,如信噪比(SNR),系統(tǒng)設(shè)計(jì)人員必須考慮采樣時(shí)鐘信號(hào)或控制ADC中采樣保持(S&H)開關(guān)的轉(zhuǎn)換啟動(dòng)信號(hào)上的抖動(dòng)所帶來的誤差。隨著目標(biāo)信號(hào)和采樣速率的增加,控制采樣保持開關(guān)的信號(hào)抖動(dòng)會(huì)成為主要誤差源。


當(dāng)DAQ信號(hào)鏈被隔離之后,控制采樣保持開關(guān)的信號(hào)一般來自進(jìn)行多通道同步采樣的背板。系統(tǒng)設(shè)計(jì)人員選擇低抖動(dòng)數(shù)字隔離器至關(guān)重要,以使進(jìn)入ADC的采樣保持開關(guān)的控制信號(hào)具有低抖動(dòng)。精密高速ADC應(yīng)首選使用LVDS接口格式,以滿足高數(shù)據(jù)速率要求。它還會(huì)對(duì)DAQ電源層和接地層帶來極小的干擾。本文將說明如何解讀ADI公司的LVDS數(shù)字隔離器的抖動(dòng)規(guī)格參數(shù),以及與精密高速產(chǎn)品(例如 ADAQ23875 DAQ μModule?解決方案)接口時(shí),哪些規(guī)格參數(shù)比較重要。本文的這些指導(dǎo)說明也適用于其他帶有LVDS接口的精密高速ADC。在介紹與 ADN4654 千兆LVDS隔離器配合使用的ADAQ23875時(shí),還將說明計(jì)算對(duì)SNR預(yù)期影響采用的方法。


抖動(dòng)如何影響采樣過程


通常,時(shí)鐘源在時(shí)域中存在抖動(dòng)。在設(shè)計(jì)DAQ系統(tǒng)時(shí),了解時(shí)鐘源中包含多少抖動(dòng)是非常重要的。


圖1展示了非理想型振蕩器的典型輸出頻譜,在1 Hz帶寬時(shí)噪聲功率與頻率成函數(shù)關(guān)系。相位噪聲的定義為指定頻率偏移fm下1 Hz帶寬內(nèi)的噪聲與基波頻率fo下振蕩器信號(hào)幅度的比率。


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圖1.受相位噪聲影響的振蕩器功率頻譜。


采樣過程是采樣時(shí)鐘與模擬輸入信號(hào)的乘法。這種時(shí)域中的乘法相當(dāng)于頻域中的卷積。所以,在ADC轉(zhuǎn)換期間,ADC采樣時(shí)鐘的頻譜與純正弦波輸入信號(hào)卷積,使得采樣時(shí)鐘或相位噪聲上的抖動(dòng)出現(xiàn)在ADC輸出數(shù)據(jù)的FFT頻譜中,具體如圖2所示。


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圖2.帶相位噪聲采樣時(shí)鐘對(duì)理想正弦波采樣的影響。


隔離式精密高速DAQ應(yīng)用


多相功率分析儀就是一個(gè)隔離式精密高速DAQ應(yīng)用示例。圖3顯示典型的系統(tǒng)架構(gòu),其中通道與通道之間隔離,通過共用背板用于與系統(tǒng)計(jì)算或控制器模塊通信。在本示例中,我們選擇ADAQ23875精密高速DAQ解決方案,因?yàn)槠涑叽缧?,所以能夠在狹小空間內(nèi)輕松安裝多個(gè)隔離DAQ通道,從而可以減輕現(xiàn)場測試應(yīng)用中移動(dòng)儀器的重量。使用LVDS千兆隔離器(ADN4654)將DAQ通道與主機(jī)箱背板隔離。


通過隔離每個(gè)DAQ通道,可以在不損壞輸入電路的情況下,將每個(gè)通道直接連接至具有不同共模電壓的傳感器。每個(gè)隔離DAQ通道的接地跟蹤具有一定電壓偏移的共模電壓。如果DAQ信號(hào)鏈能夠跟蹤與傳感器相關(guān)的共模電壓,就無需使用輸入信號(hào)調(diào)理電路來支持較大的輸入共模電壓,并消除對(duì)下游電路來說較高的共模電壓。這種隔離還可帶來安全性,并消除可能會(huì)影響測量精度的接地環(huán)路。


在功率分析儀應(yīng)用中,在所有DAQ通道中實(shí)現(xiàn)采樣事件同步至關(guān)重要,因?yàn)榕c采樣電壓相關(guān)的時(shí)域信息不匹配會(huì)影響后續(xù)計(jì)算和分析。為了在通道間同步采樣事件,ADC采樣時(shí)鐘通過LVDS隔離器從背板發(fā)出。


在圖3所示的隔離式DAQ架構(gòu)中,以下這些抖動(dòng)誤差源會(huì)增加控制ADC中采樣保持開關(guān)的采樣時(shí)鐘上的總抖動(dòng)。


參考時(shí)鐘抖動(dòng)


采樣時(shí)鐘抖動(dòng)的第一來源是參考時(shí)鐘。該參考時(shí)鐘通過背板傳輸至每個(gè)隔離式精密高速DAQ模塊和其他插入背板的測量模塊。該時(shí)鐘用作FPGA的時(shí)序參考;所以,F(xiàn)PGA中的所有事件、數(shù)字模塊、PLL等的時(shí)序精度都取決于參考時(shí)鐘的精度。在沒有背板的某些應(yīng)用中,使用板載時(shí)鐘振蕩器作為參考時(shí)鐘源。


FPGA抖動(dòng)


采樣時(shí)鐘抖動(dòng)的第二來源是FPGA帶來的抖動(dòng)。注意,F(xiàn)PGA中包含一條觸發(fā)-執(zhí)行路徑,并且FPGA中PLL和其他數(shù)據(jù)模塊的抖動(dòng)規(guī)格都會(huì)影響系統(tǒng)的整體抖動(dòng)性能。


LVDS隔離器抖動(dòng)


采樣時(shí)鐘抖動(dòng)的第三來源是LVDS隔離器。LVDS隔離器產(chǎn)生附加相位抖動(dòng),會(huì)影響系統(tǒng)的整體抖動(dòng)性能。


ADC的孔徑抖動(dòng)


采樣時(shí)鐘抖動(dòng)的第四來源是ADC的孔徑抖動(dòng)。這是ADC本身固有的特性,請(qǐng)參閱數(shù)據(jù)手冊(cè)查看具體定義。


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圖3.通道與通道之間的隔離DAQ架構(gòu)


有些參考時(shí)鐘和FPGA抖動(dòng)規(guī)格基于相位噪聲給出。要計(jì)算對(duì)采樣時(shí)鐘的抖動(dòng)貢獻(xiàn),需要將頻域中的相位噪聲規(guī)格轉(zhuǎn)化為時(shí)域中的抖動(dòng)規(guī)格。


根據(jù)相位噪聲計(jì)算抖動(dòng)


相位噪聲曲線有些類似于放大器的輸入電壓噪聲頻譜密度。與放大器電壓噪聲一樣,最好在振蕩器中使用1/f低轉(zhuǎn)折頻率。振蕩器通常用相位噪聲來描述性能,但為了將相位噪聲與ADC的性能關(guān)聯(lián)起來,必須將相位噪聲轉(zhuǎn)換為抖動(dòng)。為將圖4中的圖與現(xiàn)代ADC應(yīng)用關(guān)聯(lián)起來,選擇100 MHz的振蕩器頻率(采樣頻率)以便于討論,典型曲線如圖4所示。請(qǐng)注意,相位噪聲曲線由多條線段擬合而成,各線段的端點(diǎn)由數(shù)據(jù)點(diǎn)定義。


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圖4.根據(jù)相位噪聲計(jì)算抖動(dòng)。


計(jì)算等量rms抖動(dòng)時(shí),第一步是獲取目標(biāo)頻率范圍中的積分相位噪聲功率,即曲線區(qū)域A。該曲線被分為多個(gè)獨(dú)立區(qū)域(A1、A2、A3和A4),每個(gè)區(qū)域由兩個(gè)數(shù)據(jù)點(diǎn)定義。假設(shè)振蕩器與ADC輸入端之間無濾波,則積分頻率范圍的上限應(yīng)為采樣頻率的2倍,這近似于ADC采樣時(shí)鐘輸入的帶寬。積分頻率范圍下限的選擇也需要一定的斟酌。理論上,它應(yīng)盡可能低,以便獲得真實(shí)的rms抖動(dòng)。但實(shí)際上,制造商一般不會(huì)給出偏移頻率小于10 Hz時(shí)的振蕩器特性,不過這在計(jì)算中已經(jīng)能夠得出足夠精度的結(jié)果。多數(shù)情況下,如果提供了100 Hz時(shí)的特性,則選擇100 Hz作為積分頻率下限是合理的。否則,可以使用1 kHz或10 kHz數(shù)據(jù)點(diǎn)。還應(yīng)考慮,近載波相位噪聲會(huì)影響系統(tǒng)的頻譜分辨率,而寬帶噪聲則會(huì)影響整體系統(tǒng)信噪比。最明智的方法或許是對(duì)各區(qū)域分別積分,并檢查各區(qū)域的抖動(dòng)貢獻(xiàn)幅度。如果使用晶體振蕩器,則低頻貢獻(xiàn)與寬帶貢獻(xiàn)相比,可能可以忽略不計(jì)。其它類型的振蕩器在低頻區(qū)域可能具有相當(dāng)大的抖動(dòng)貢獻(xiàn),必須確定其對(duì)整體系統(tǒng)頻率分辨率的重要性。各區(qū)域的積分產(chǎn)生個(gè)別功率比,然后將各功率比相加,并轉(zhuǎn)換回dBc。已知積分相位噪聲功率后,便可通過下式計(jì)算rms相位抖動(dòng)(單位為弧度):


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以上結(jié)果除以2πf0,便可將用弧度表示的抖動(dòng)0轉(zhuǎn)換為用秒表示的抖動(dòng):


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更多詳細(xì)信息,請(qǐng)參閱 "MT-008教程:將振蕩器相位噪聲轉(zhuǎn)化為時(shí)間抖動(dòng)" 。


量化參考時(shí)鐘抖動(dòng)


高性能DAQ系統(tǒng)中使用的參考時(shí)鐘源一般為晶體振蕩器,與其他時(shí)鐘源相比,它可以提供更出色的抖動(dòng)性能。


我們一般使用表1所示的示例在數(shù)據(jù)手冊(cè)中定義晶體振蕩器的抖動(dòng)規(guī)格。在量化參考時(shí)鐘的抖動(dòng)貢獻(xiàn)時(shí),相位抖動(dòng)是最重要的規(guī)格指標(biāo)。相位抖動(dòng)通常定義為邊沿位置相對(duì)于平均邊沿位置的偏差。


表1.數(shù)據(jù)手冊(cè)中給出的晶體振蕩器抖動(dòng)規(guī)格示例

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另一方面,有一些晶體振蕩器指定相位噪聲性能,而不是指定抖動(dòng)。如果振蕩器數(shù)據(jù)手冊(cè)定義了相位噪聲性能,可以將噪聲值轉(zhuǎn)化為抖動(dòng),如"根據(jù)相位噪聲計(jì)算抖動(dòng)"部分所述。


量化來自FPGA的抖動(dòng)


FPGA中參考時(shí)鐘的主要作用是提供觸發(fā)信號(hào),以啟動(dòng)FPGA中設(shè)定的不同并行事件。換句話說,參考時(shí)鐘協(xié)調(diào)FPGA中的所有事件。為了提供更好的時(shí)間分辨率,參考時(shí)鐘通常被傳遞到FPGA中的PLL,以增大其頻率,因此,可能出現(xiàn)短時(shí)間隔事件。此外,需注意FPGA中包含一條觸發(fā)-執(zhí)行路徑,其中,參考時(shí)鐘被傳遞至?xí)r鐘緩沖器、計(jì)數(shù)器、邏輯門等。處理抖動(dòng)敏感型重復(fù)事件(例如,通過隔離將LVDS轉(zhuǎn)化-開始信號(hào)提供給ADC)時(shí),需要量化來自FPGA的抖動(dòng)貢獻(xiàn),以合理預(yù)估整體系統(tǒng)抖動(dòng)對(duì)高速數(shù)據(jù)采集性能的影響。


FPGA的抖動(dòng)性能通常在FPGA數(shù)據(jù)手冊(cè)中給出。也會(huì)在大部分FPGA軟件工具的靜態(tài)時(shí)序分析(STA)中給出,如圖5所示。時(shí)序分析工具可以計(jì)算數(shù)據(jù)路徑源和目的地的時(shí)鐘不確定性,并將它們組合以獲得總時(shí)鐘不確定性。為了自動(dòng)在STA中計(jì)算參考時(shí)鐘抖動(dòng)量,必須在FPGA項(xiàng)目中將其添加為輸入抖動(dòng)約束。


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圖5.靜態(tài)時(shí)序分析(STA)示例視圖。


量化數(shù)字隔離產(chǎn)生的抖動(dòng)


查看抖動(dòng)的最基本方法是用差分探針去測量LVDS信號(hào)對(duì),并且上升沿和下降沿上均要觸發(fā),示波器設(shè)定為無限持續(xù)。這意味著高至低和低至高的躍遷會(huì)相互迭加,因此可以測量交越點(diǎn)。交越寬度對(duì)應(yīng)于峰峰值抖動(dòng)或截至目前所測得的時(shí)間間隔誤差(TIE)。比較圖6和圖7所示的眼圖和直方圖。有一些抖動(dòng)是隨機(jī)來源(例如熱噪聲)所導(dǎo)致,此隨機(jī)抖動(dòng)(RJ)意味著示波器上所看到的峰峰值抖動(dòng)會(huì)受到運(yùn)行時(shí)間的限制(隨著運(yùn)行時(shí)間增加,直方圖上的尾巴會(huì)升高)。


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圖6.ADN4651的眼圖。 


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圖7. ADN4651的眼圖直方圖。 


相比之下,確定性抖動(dòng)(DJ)的來源是有界限的,例如脈沖偏斜所導(dǎo)致的抖動(dòng)、數(shù)據(jù)相關(guān)抖動(dòng)(DDJ)和符碼間干擾(ISI)。脈沖偏斜源于高至低與低至高傳輸延遲之間的差異。這可以通過偏移交越實(shí)現(xiàn)可視化,即在0 V時(shí),兩個(gè)邊沿分開(很容易通過圖7中直方圖內(nèi)的分隔看出來)。DDJ源于不同工作頻率時(shí)的傳輸延遲差異,而ISI源于前一躍遷頻率對(duì)當(dāng)前躍遷的影響(例如,邊沿時(shí)序在一連串的1s或0s與1010模式碼之后通常會(huì)有所不同)。


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圖8.總抖動(dòng)貢獻(xiàn)來源。


圖8顯示如何充分估算特定誤碼率下的總抖動(dòng)(TJ@BER)??梢愿鶕?jù)模型與測量所得的TIE分配之間的擬合狀態(tài)來計(jì)算隨機(jī)抖動(dòng)和確定性抖動(dòng)。此類模型中的一種是雙狄拉克模型,它假設(shè)高斯隨機(jī)分布與雙狄拉克δ函數(shù)卷積(兩個(gè)狄拉克δ函數(shù)之間的分隔距離對(duì)應(yīng)于確定性抖動(dòng))。對(duì)于具有明顯確定性抖動(dòng)的TIE分布而言,該分布在視覺上近似于此模型。有一個(gè)難點(diǎn)是某些確定性抖動(dòng)會(huì)對(duì)高斯分量帶來影響,亦即雙狄拉克函數(shù)可能低估確定性抖動(dòng),高估隨機(jī)抖動(dòng)。然而,兩者結(jié)合仍能精確估計(jì)特定誤碼率下的總抖動(dòng)。


隨機(jī)抖動(dòng)規(guī)定為高斯分布模型中的1 σ rms值,若要推斷更長的運(yùn)行長度(低BER),只需選擇適當(dāng)?shù)亩唳?,使其沿著分布的尾端移?dòng)足夠長的距離(例如,1 × 10-12位錯(cuò)誤需要14 σ)即可。接著加入DJ以提供TJ@BER的估計(jì)值。對(duì)于信號(hào)鏈中的多個(gè)元件,與其增加會(huì)導(dǎo)致高估抖動(dòng)的多個(gè)TJ值,不如將RJ值進(jìn)行幾何加總,將DJ值進(jìn)行代數(shù)加總,這樣將能針對(duì)完整的信號(hào)鏈提供更為合理的完整TJ@BER估計(jì)。


ADN4654的RJ、DJ和TJ@BER全都是分別指定的,依據(jù)多個(gè)單元的統(tǒng)計(jì)分析提供各自的最大值,藉以確保這些抖動(dòng)值在電源、溫度和工藝變化范圍內(nèi)都能維持。


圖9顯示ADN4654 LVDS隔離器的抖動(dòng)規(guī)格示例。對(duì)于隔離式DAQ信號(hào)鏈,附加相位抖動(dòng)是最重要的抖動(dòng)規(guī)格。附加相位抖動(dòng)與其他抖動(dòng)源一起使ADC孔徑抖動(dòng)增加,從而導(dǎo)致采樣時(shí)間不準(zhǔn)確。


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圖9.ADN4654抖動(dòng)規(guī)格。


量化ADC的孔徑抖動(dòng)


孔徑抖動(dòng)是ADC的固有特性。這是由孔徑延遲中的樣本間變化引起的,與采樣事件中的誤差電壓對(duì)應(yīng)。在開關(guān)斷開的時(shí)刻,這種樣本間變化稱為"孔徑不確定性"或"孔徑抖動(dòng)",通常用均方根皮秒(ps rms)來衡量。


在ADC中,如圖10和圖11所示,孔徑延遲時(shí)間以轉(zhuǎn)換器輸入作為基準(zhǔn);應(yīng)考慮通過輸入緩沖器的模擬傳輸延遲ta的影響;以及通過開關(guān)驅(qū)動(dòng)器的數(shù)字延遲tdd的影響。以ADC輸入為基準(zhǔn),孔徑時(shí)間ta'定義為前端緩沖器的模擬傳播延遲tda與開關(guān)驅(qū)動(dòng)器數(shù)字延遲tdd的時(shí)間差加上孔徑時(shí)間的一半ta/2。


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圖10.ADC的采樣保持輸入級(jí)。


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圖11.采樣保持波形和定義。


以ADAQ23875為例,孔徑抖動(dòng)僅約0.25 psRMS,如圖12所示。此規(guī)格通過設(shè)計(jì)保證,但未經(jīng)測試。


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圖12.ADAQ23875孔徑抖動(dòng)。


整體采樣時(shí)鐘抖動(dòng)


量化圖3所示的四大模塊各自的抖動(dòng)貢獻(xiàn)之后,可以取四個(gè)抖動(dòng)源的和方根(RSS)來計(jì)算控制采樣保持開關(guān)的信號(hào)(或時(shí)鐘)的整體抖動(dòng)性能。


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另一方面,如果使用了STA,則簡化的時(shí)鐘抖動(dòng)計(jì)算公式為:


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采樣時(shí)鐘抖動(dòng)對(duì)SNR的影響


對(duì)控制采樣保持開關(guān)的信號(hào)的整體抖動(dòng)進(jìn)行量化之后,現(xiàn)在可以量化抖動(dòng)對(duì)DAQ信號(hào)鏈的SNR性能的影響程度。


圖13顯示采樣時(shí)鐘上的抖動(dòng)所造成的誤差。


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圖13.采樣時(shí)鐘抖動(dòng)造成的影響。


通過下面的簡單分析,可以預(yù)測采樣時(shí)鐘抖動(dòng)對(duì)理想ADC的SNR的影響。


假設(shè)輸入信號(hào)由下式給出:


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該信號(hào)的變化速率由下式給出:


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將幅度2πfVO除以√2可以獲得dv/dt的rms?,F(xiàn)在令ΔVrms = rms電壓誤差,Δt = rms孔徑抖動(dòng)tj,并代入這些


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求解ΔVrms


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滿量程輸入正弦波的rms值為VO/√2。因此,rms信號(hào)與rms噪聲的比值(用dB表示)由頻率給出:


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該公式假設(shè)ADC具有無限的分辨率,孔徑抖動(dòng)是決定SNR的唯一因素。圖14給出了該公式的圖形,它說明孔徑和采樣時(shí)鐘抖動(dòng)對(duì)SNR和ENOB有嚴(yán)重影響,特別是當(dāng)輸入/輸出較高時(shí)。


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圖14.抖動(dòng)引起的數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器理論SNR和ENOB與滿量程正弦波輸入頻率的關(guān)系。


ADAQ23875和ADN4654采樣時(shí)鐘抖動(dòng)理想SNR計(jì)算


ADAQ23875的孔徑抖動(dòng)(典型值)為250 fs rms,ADN4654的附加相位抖動(dòng)為387 fs rms (fOUT = 1 MHz)。在這種情況下,我們暫且不考慮參考時(shí)鐘和FPGA的抖動(dòng)貢獻(xiàn)。


現(xiàn)在,根據(jù)ADC和隔離器的抖動(dòng)規(guī)格,我們可以使用以下公式計(jì)算總rms抖動(dòng):


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圖14和圖15顯示了計(jì)算得出的隔離式精密高速DAQ系統(tǒng)的最大SNR和ENOB性能。SNR和ENOB隨輸入頻率降低,與圖13中所示的SNR理論圖一致。


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圖15.針對(duì)ADAQ23875和ADN4654計(jì)算得出的SNR的最大值。


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圖16.針對(duì)ADAQ23875和ADN4654計(jì)算得出的ENOB的最大值。


結(jié)論


控制ADC中采樣保持開關(guān)的信號(hào)(或時(shí)鐘)中的抖動(dòng)會(huì)影響精密高速DAQ信號(hào)鏈的SNR性能。在選擇組成時(shí)鐘信號(hào)鏈的各個(gè)部件時(shí),了解會(huì)使總抖動(dòng)增加的各種誤差源非常重要。


當(dāng)應(yīng)用需要將DAQ信號(hào)鏈與背板隔離時(shí),選擇低附加抖動(dòng)數(shù)字隔離器是保持出色的SNR性能的關(guān)鍵。ADI提供低抖動(dòng)LVDS隔離器,可幫助系統(tǒng)設(shè)計(jì)人員在隔離信號(hào)鏈架構(gòu)中實(shí)現(xiàn)高SNR性能。


參考時(shí)鐘是采樣時(shí)鐘抖動(dòng)的第一來源,所以需使用低抖動(dòng)參考時(shí)鐘以實(shí)現(xiàn)隔離高速DAQ的出色性能。此外,還需確保FPGA和參考時(shí)鐘之間路徑的信號(hào)完整性,避免路徑本身帶來額外誤差。


參考電路


B. E. Boser和B. A. Wooley。 “Σ-Δ調(diào)制模數(shù)轉(zhuǎn)換器的設(shè)計(jì)”。IEEE固態(tài)電路雜志,第23卷第6期,1988年12月。


Steven Harris。 “采樣時(shí)鐘抖動(dòng)對(duì)奈奎斯特采樣模數(shù)轉(zhuǎn)換器和過采樣Σ-Δ型ADC的影響”。音頻工程學(xué)會(huì)雜志,第38卷第7/8期,1990年7月/8月。


Kester, Walt. “MT-008教程:將振蕩器相位噪聲轉(zhuǎn)換為時(shí)間抖動(dòng)”。 ADI公司,2009年。


Derek Redmayne、Eric Trelewicz和Alison Smith?!?了解時(shí)鐘抖動(dòng)對(duì)高速ADC的影響”。 ADI公司,2006年。


致謝


作者感謝Michael Hennessy和Stuart Servis對(duì)本文的技術(shù)貢獻(xiàn)。



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