產(chǎn)品特點(diǎn)：
- 泰克USB-TX則提供了全面而完善的一系列檢定、調(diào)試和一致性測(cè)試工具
應(yīng)用領(lǐng)域：
- USB 3.0發(fā)射機(jī)、接收機(jī)和電纜測(cè)試
泰克公司日前宣布，為超高速 USB (USB 3.0)設(shè)備的檢定、調(diào)試和自動(dòng)化一致性測(cè)試提供一套完善的新工具組。泰克本次在DPO/DSA70000B示波器上最新推出的USB-TX選件為驗(yàn)證USB 3.0發(fā)射機(jī)提供了自動(dòng)的一鍵式測(cè)試解決方案，為工程師帶來了更高效的方法，加快產(chǎn)品開發(fā)周期。此外，泰克公司還推出了一整套USB 3.0測(cè)試夾具，使工程師可以執(zhí)行更精確的發(fā)射機(jī)、接收機(jī)和電纜測(cè)試。
受來自更快數(shù)據(jù)傳輸速度的驅(qū)使，USB 3.0的性能較當(dāng)前USB解決方案提高了10倍，但同時(shí)也給系統(tǒng)和電路設(shè)計(jì)人員帶來了多重挑戰(zhàn)。增加的帶寬對(duì)關(guān)鍵信號(hào)傳輸和信號(hào)保真度提出了更高的要求，因而需要異常準(zhǔn)確、功能多樣的測(cè)試解決方案。當(dāng)業(yè)內(nèi)其它解決方案只是根據(jù)USB-IF測(cè)試規(guī)范提供標(biāo)準(zhǔn)化測(cè)量時(shí)，泰克的USB-TX選項(xiàng)則支持所有測(cè)量，包括標(biāo)準(zhǔn)化測(cè)試和參考性測(cè)試，如擴(kuò)頻時(shí)鐘(SSC)、轉(zhuǎn)換、電壓電平等等?？蛻敉耆梢孕刨嚻湓O(shè)計(jì)驗(yàn)證過程。
其它解決方案只限于特定標(biāo)準(zhǔn)化一致性測(cè)試，而泰克USB-TX則提供了全面而完善的一系列檢定、調(diào)試和一致性測(cè)試工具。加上唯一能夠以最近距離探測(cè)芯片的插頭式測(cè)試夾具，泰克USB3.0測(cè)試解決方案可以最真實(shí)地反映信號(hào)。
“我們得以提前試用泰克為超高速 USB最新推出的測(cè)試解決方案，它為Fresco Logic的USB 3.0芯片設(shè)計(jì)工藝帶來的生產(chǎn)效率上的提高令人激動(dòng)。”Fresco Logic公司首席技術(shù)官Bob McVay說，“AWG7000可以執(zhí)行接收機(jī)容限測(cè)試，并能夠迅速從發(fā)射機(jī)一致性測(cè)試環(huán)境轉(zhuǎn)到調(diào)試。事實(shí)證明，AWG7000可以節(jié)約大量時(shí)間。”
高速串行標(biāo)準(zhǔn)自動(dòng)化框架
選項(xiàng)USB-TX基于TekExpressä框架，該框架是專為自動(dòng)一鍵式測(cè)試高速串行數(shù)據(jù)標(biāo)準(zhǔn)而開發(fā)的。TekExpress模塊基于標(biāo)準(zhǔn)機(jī)構(gòu)指定和發(fā)布的測(cè)試要求和實(shí)現(xiàn)方法(MOI)，所有測(cè)試流程均自動(dòng)完成，客戶只需選擇所需的測(cè)試，就可以獲得包括通過/失敗和余量結(jié)果的完整報(bào)告。除新推出的USB 3.0解決方案外，泰克目前還為SATA和DisplayPort提供了自動(dòng)測(cè)試模塊。
“TekExpress幫助工程師們消除了高速串行數(shù)據(jù)測(cè)試工作中的臆測(cè)。在當(dāng)前環(huán)境中，客戶要處理多種標(biāo)準(zhǔn)，成為所有領(lǐng)域的專家，這一點(diǎn)極具挑戰(zhàn)性。”泰克公司技術(shù)解決方案部總經(jīng)理Ian Valentine說，“TekExpress提供了客戶所需的專業(yè)技術(shù)，并使得他們能夠?qū)Ｗ⒂谠缛諏⒃O(shè)計(jì)投向市場(chǎng)上。”
完整的發(fā)射機(jī)、接收機(jī)和電纜測(cè)試解決方案
USB將加入其它高速串行標(biāo)準(zhǔn)，如速率達(dá)8 Gb/s 的PCI Express和6 Gb/s的SATA ，成為要求更高的技術(shù)之一，從而需要先進(jìn)的測(cè)量儀器，如泰克最新推出的業(yè)內(nèi)領(lǐng)先的DPO/DSA70000B示波器。泰克實(shí)時(shí)示波器擁有高達(dá)20GHz的帶寬，提供了業(yè)內(nèi)最優(yōu)秀的信號(hào)保真度、最低的噪底和最高的有效比特?cái)?shù)(ENOB)，為高要求的一致性測(cè)試和調(diào)試測(cè)試提供了更大的余量和保真度。對(duì)于接收機(jī)測(cè)試來說，泰克AWG7000B任意波形發(fā)生器是唯一可以在一臺(tái)儀器中生成所有要求信號(hào)的解決方案。同時(shí)，泰克還通過其DSA8200采樣示波器提供了電纜和信道測(cè)量解決方案。
供貨情況
測(cè)試夾具將在2009年夏季供貨。
