采用具有驅(qū)動(dòng)器源極引腳的低電感表貼封裝的SiC MOSFET
發(fā)布時(shí)間:2021-02-03 來(lái)源:ROHM 責(zé)任編輯:wenwei
【導(dǎo)讀】人們普遍認(rèn)為,SiCMOSFET可以實(shí)現(xiàn)非??斓?a target="_blank" style="text-decoration:none;" >開(kāi)關(guān)速度,有助于顯著降低電力電子領(lǐng)域功率轉(zhuǎn)換過(guò)程中的能量損耗。然而,由于傳統(tǒng)功率半導(dǎo)體封裝的限制,在實(shí)際應(yīng)用中并不總是能發(fā)揮SiC元器件的全部潛力。在本文中,我們首先討論傳統(tǒng)封裝的一些局限性,然后介紹采用更好的封裝形式所帶來(lái)的好處。最后,展示對(duì)使用了圖騰柱(Totem-Pole)拓?fù)涞?.7kW單相PFC進(jìn)行封裝改進(jìn)后獲得的改善效果。
功率元器件傳統(tǒng)封裝形式帶來(lái)的開(kāi)關(guān)性能限制
TO-247N(圖1)是應(yīng)用最廣泛的功率晶體管傳統(tǒng)封裝形式之一。如圖1左側(cè)所示,該器件的每個(gè)引腳都存在寄生電感分量。圖1右側(cè)是非常簡(jiǎn)單且典型的柵極驅(qū)動(dòng)電路示例。從這些圖中可以看出,漏極引腳和源極引腳的電感分量會(huì)被加到主電流開(kāi)關(guān)電路中,這些電感會(huì)導(dǎo)致器件在關(guān)斷時(shí)產(chǎn)生過(guò)電壓,因此要想確保過(guò)電壓的數(shù)值滿足漏極-源極間技術(shù)規(guī)格的要求,就需要限制器件的開(kāi)關(guān)速度。
圖1:功率元器件的傳統(tǒng)封裝及其寄生電感
柵極引腳和源極引腳的寄生電感是柵極驅(qū)動(dòng)電路中的一部分,因此在驅(qū)動(dòng)MOSFET時(shí)需要考慮這部分電感。此外,這部分電感還可能會(huì)與柵極驅(qū)動(dòng)電路中的寄生電容之間發(fā)生振蕩。當(dāng)MOSFET導(dǎo)通時(shí),ID增加,并且在源極引腳的電感(Ls)中產(chǎn)生電動(dòng)勢(shì)(VLS)。而柵極引腳中則流入電流(IG),并且因柵極電阻(RG)而發(fā)生電壓降。由于這些電壓包含在柵極驅(qū)動(dòng)電路中,因此它們會(huì)使MOSFET導(dǎo)通所需的柵極電壓降低,從而導(dǎo)致導(dǎo)通速度變慢,見(jiàn)圖2。
圖2:LS導(dǎo)致芯片中的VGS降低(導(dǎo)通時(shí))
解決這種問(wèn)題的方法之一是采用具備“驅(qū)動(dòng)器源極”引腳的功率元器件封裝。通過(guò)配備將源極引腳和柵極驅(qū)動(dòng)環(huán)路分開(kāi)的驅(qū)動(dòng)器源極引腳,可以消除導(dǎo)通時(shí)的源極電感(LS)對(duì)柵極電壓的影響,因此不會(huì)因電壓降而降低導(dǎo)通速度,從而可以大大減少導(dǎo)通損耗。
TO-263-7L帶來(lái)的開(kāi)關(guān)性能改善
除了TO-247-4L封裝外,羅姆還開(kāi)發(fā)出采用TO-263-7L表貼封裝,使分立SiC MOSFET產(chǎn)品陣容更加豐富。采用TO-263-7L封裝可以實(shí)現(xiàn)SiC MOSFET源極引腳的開(kāi)爾文連接,這種封裝的優(yōu)點(diǎn)如圖3所示。從圖中可以看出,柵極驅(qū)動(dòng)相關(guān)的部分和主電流路徑不再共享主源極側(cè)的電感LS。因此,可以使器件的導(dǎo)通速度更快,損耗更小。
圖3:TO-263-7L表貼封裝及其寄生電感
采用TO-263-7L封裝的另一個(gè)優(yōu)點(diǎn)是漏極引腳和源極引腳的電感比TO-247N封裝小得多。由于漏極引腳的接合面積大,另外源極引腳可以由多根短引線并聯(lián)連接組成,因此可以降低封裝的電感(LD或LS)。為了量化新封裝形式帶來(lái)的元器件性能改進(jìn)程度,我們比較了采用兩種不同封裝的相同SiC MOSFET芯片的導(dǎo)通和關(guān)斷時(shí)的開(kāi)關(guān)動(dòng)作(圖4)。
圖4:1200V/40mΩ SiC MOSFET的開(kāi)關(guān)動(dòng)作比較
(TO-247N:SCT3040KL、TO-263-7L:SCT3040KW7、VDS=800V)
導(dǎo)通時(shí)的開(kāi)關(guān)瞬態(tài)曲線表明,采用三引腳封裝(TO-247N)的“SCT3040KL”的開(kāi)關(guān)速度受到限制,其中一個(gè)原因是源極引腳的電動(dòng)勢(shì)使有效柵極電壓降低,導(dǎo)致電流變化時(shí)間變長(zhǎng),從而造成導(dǎo)通損耗增加。而對(duì)于采用具備驅(qū)動(dòng)器源極的表貼封裝(TO-263-7L)的“SCT3040KW7”來(lái)說(shuō),電流變化時(shí)間則變得非常短,因此可以減少導(dǎo)通損耗。另外,由于寄生電感減少,因此采用TO-263-7L封裝的SiC MOSFET在關(guān)斷時(shí)的dI/dt要高得多,因此關(guān)斷損耗也小于TO-247N封裝。
下圖展示了兩種封裝實(shí)現(xiàn)的開(kāi)關(guān)損耗與開(kāi)關(guān)電流之間的關(guān)系。顯然,TO-263-7L封裝器件導(dǎo)通速度的提高有助于降低開(kāi)關(guān)損耗,尤其是在大電流區(qū)域效果更加明顯。
圖5:采用TO-247N封裝和TO-263-7L封裝的1200V/40mΩ SiC MOSFET的開(kāi)關(guān)損耗比較
【柵極驅(qū)動(dòng)電路:使用了米勒鉗位(MC)和浪涌鉗位用的肖特基勢(shì)壘二極管(SBD)】
如上述比較數(shù)據(jù)所示,具有可以連接至柵極驅(qū)動(dòng)環(huán)路的驅(qū)動(dòng)器源極引腳,并可以減小寄生電感的封裝,器件性能得以發(fā)揮,特別是在大電流區(qū)域中發(fā)揮得更好。所以,在相同的開(kāi)關(guān)頻率下器件總損耗更小;另外,如果降低損耗不是主要目標(biāo),則還可以增加器件的開(kāi)關(guān)頻率。
新表貼封裝產(chǎn)品的陣容
除了上文提到的1200V/40mΩ產(chǎn)品之外,羅姆產(chǎn)品陣容中還包括額定電壓分別為650V和1200V 的TO-263-7L 封裝SiC MOSFET產(chǎn)品(表1)。另外,符合汽車電子產(chǎn)品可靠性標(biāo)準(zhǔn)的車載級(jí)產(chǎn)品也在計(jì)劃中。
表1:TO-263-7L封裝的溝槽SiC MOSFET產(chǎn)品陣容
表貼封裝SiC MOSFET在車載充電器(OBC)中的適用性
本文將以一個(gè)3.7kW單相PFC的電路為應(yīng)用案例來(lái)說(shuō)明表貼封裝SiC MOSFET能夠?qū)崿F(xiàn)的性能。這種功率級(jí)單相PFC可用作單相3.7kW車載充電器的輸入級(jí),或用作11kW車載充電系統(tǒng)的構(gòu)件。在后一種情況下,將三個(gè)單相PFC通過(guò)開(kāi)關(guān)矩陣相組合,可以實(shí)現(xiàn)單相驅(qū)動(dòng)或最大11kW的三相驅(qū)動(dòng)。該應(yīng)用案例框圖參見(jiàn)圖6。
圖6:多個(gè)3.7kW PFC組成的11kW OBC框圖
圖7中包括幾種可應(yīng)用的PFC電路拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)。傳統(tǒng)升壓PFC的輸入端存在二極管整流電路,因此其效率提升受到限制。兩相無(wú)橋PFC以及圖騰柱PFC可以削減二極管整流電路,從而可以降低總傳導(dǎo)損耗。但是需要注意的是,兩相無(wú)橋PFC雖然可實(shí)現(xiàn)高效率,卻存在每個(gè)橋臂僅在一半輸入周期內(nèi)使用的缺點(diǎn),因此每個(gè)器件的峰值電流與電流有效值之比(即所謂的“波峰因數(shù)”)增高,使功率半導(dǎo)體上的功率循環(huán)壓力很大。
圖7:?jiǎn)蜗郟FC的概念圖
圖騰柱PFC有兩種不同的類型。最簡(jiǎn)單的類型僅包含兩個(gè)MOSFET和兩個(gè)二極管。由于二極管在低頻下開(kāi)關(guān),因此選擇具有低正向壓降的器件。另一方面,由于MOSFET中的體二極管用于換流,因此選擇體二極管特性出色的器件是非常重要的。此外,新型寬帶隙半導(dǎo)體(比如SiC MOSFET)具有支持硬開(kāi)關(guān)的體二極管,因此非常適用于這類應(yīng)用。最后,如果希望盡可能獲得更出色的性能,那么可以用有源開(kāi)關(guān)(比如SJ MOSFET)來(lái)替代低頻開(kāi)關(guān)二極管,以進(jìn)一步降低損耗。
為了展示利用圖騰柱PFC可以實(shí)現(xiàn)的幾種性能,我們實(shí)施了仿真。在仿真中,我們對(duì)采用TO-263-7L 封裝的650V/60mΩ SiC MOSFET的開(kāi)關(guān)損耗測(cè)量值進(jìn)行了驗(yàn)證。假設(shè)開(kāi)關(guān)頻率為100 kHz,我們對(duì)高頻側(cè)橋臂和低頻側(cè)橋臂的半導(dǎo)體損耗都進(jìn)行了建模。對(duì)于低頻橋臂,由于開(kāi)關(guān)損耗的影響極小,因此僅考慮了60mΩ產(chǎn)品的導(dǎo)通損耗。
仿真結(jié)果如圖8所示。從圖中可以看出,最大效率為98.7%,出現(xiàn)在60%的標(biāo)稱輸出功率附近。該階段的其他損耗沒(méi)有建模。當(dāng)然,為了進(jìn)行全面分析,不僅需要考慮控制電路和柵極驅(qū)動(dòng)電路,還需要考慮電感和其他無(wú)源元件的損耗。然而,很明顯,在使用了650V SiC MOSFET的圖騰柱PFC中,可以實(shí)現(xiàn)高性能的PFC電路。
圖8:僅考慮半導(dǎo)體損耗的圖騰柱PFC的估算效率
(Vin = 230V,Vout = 400V,fSW = 100 kHz,高頻側(cè)橋臂:SCT3060AW7,低頻側(cè)橋臂:60m?產(chǎn)品)
結(jié)語(yǔ)
在本文中,我們確認(rèn)了SiC MOSFET采用具備驅(qū)動(dòng)器源極引腳的低電感表貼封裝所帶來(lái)的性能優(yōu)勢(shì)。研究結(jié)果表明,尤其是在大電流條件下,由于柵極環(huán)路不受dI/dt以及源極引腳電感導(dǎo)致的電壓降的影響,因此采用表貼封裝的產(chǎn)品導(dǎo)通損耗大大降低。封裝電感的總體減小還使得SiC MOSFET的關(guān)斷速度加快。這兩個(gè)優(yōu)點(diǎn)顯著降低了器件導(dǎo)通和關(guān)斷時(shí)的開(kāi)關(guān)損耗。在系統(tǒng)方面,我們已經(jīng)看到,圖騰柱PFC中采用RDS(ON)為60mΩ的650V SiC MOSFET時(shí)的轉(zhuǎn)換效率超過(guò)98%,這將有利于實(shí)現(xiàn)非常緊湊的設(shè)計(jì),因此可以說(shuō),這對(duì)于車載充電器等車載應(yīng)用開(kāi)發(fā)來(lái)說(shuō)是非常重要的關(guān)鍵點(diǎn)。
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