你的位置:首頁 > 測(cè)試測(cè)量 > 正文

高速電路布局布線設(shè)計(jì)的信號(hào)完整性分析

發(fā)布時(shí)間:2011-10-25

中心議題:
  • MCM布局布線的軟件實(shí)現(xiàn)
  • MCM布局布線的仿真分析
解決方案:
  • IBIS模型
  • 反射分析
  • EMI分析

推薦閱讀:
信號(hào)完整性的電路板設(shè)計(jì)準(zhǔn)則
http://m.forexsooq.com/art/artinfo/id/80014391
靜電放電保護(hù)時(shí)怎樣維持USB信號(hào)完整性
http://m.forexsooq.com/art/artinfo/id/80014261
常用信號(hào)完整性的測(cè)試手段和在設(shè)計(jì)的應(yīng)用
http://m.forexsooq.com/art/artinfo/id/80014529

摘要:隨著封裝密度的增加和工作頻率的提高,MCM電路設(shè)計(jì)中的信號(hào)完整性問題已不容忽視。本文以檢測(cè)器電路為例,首先利用APD軟件實(shí)現(xiàn)電路的布局布線設(shè)計(jì),然后結(jié)合信號(hào)完整性分析,對(duì)電路布局布線結(jié)構(gòu)進(jìn)行反復(fù)調(diào)整,最后的Spectra Quest軟件仿真結(jié)果表明,改進(jìn)后的電路布局布線滿足信號(hào)完整性要求,同時(shí)保持較高的仿真精度。

隨著集成電路工藝技術(shù)的發(fā)展,多芯片組件工作速度越來越高,高速信號(hào)的處理已成為MCM電路設(shè)計(jì)能否成功的關(guān)鍵。當(dāng)時(shí)鐘信號(hào)的上升沿或下降沿很小時(shí),就會(huì)導(dǎo)致傳輸線效應(yīng),即出現(xiàn)信號(hào)完整性問題。

本設(shè)計(jì)按照?qǐng)D1所示的MCM布局布線設(shè)計(jì)流程,以檢測(cè)器電路為例,詳細(xì)闡述了利用信號(hào)完整性分析工具進(jìn)行MCM布局布線設(shè)計(jì)的方法。首先對(duì)封裝零件庫加以擴(kuò)充,以滿足具體電路布局布線設(shè)計(jì)的需要;然后利用APD(Advanced Package Designer)軟件直接調(diào)用零件封裝符號(hào),完成電路初步的布局布線設(shè)計(jì);最后結(jié)合反射、延時(shí)和電磁兼容等信號(hào)完整性仿真分析結(jié)果進(jìn)行反復(fù)調(diào)整,改進(jìn)后的電路布局布線減小了信號(hào)的反射,輸入信號(hào)的相對(duì)延時(shí)不超過0.2ns,電磁干擾現(xiàn)象也得到了抑制,滿足信號(hào)完整性要求。

MCM布局布線的軟件實(shí)現(xiàn)

如上所述,MCM布局布線的實(shí)現(xiàn)包括電路原理圖生成、擴(kuò)充零件庫及最終的布局布線完成和加工數(shù)據(jù)文件輸出。APD Layout包括Padstack(*.pad)、Package Symbol(*.psm)、Mechanical Symbol(*.bsm)、Format Symbol (*.osm)和Shape Symbol(*.ssm)五種,MCM布局布線設(shè)計(jì)中,所有的布局都必須有正確的Library Packing。MCM設(shè)計(jì)軟件自帶封裝庫往往不能滿足具體設(shè)計(jì)要求,只有擴(kuò)充零件庫后,才能直接調(diào)用零件進(jìn)行布局布線設(shè)計(jì)及最終的工藝文件輸出。首先利用Padstack Editor軟件擴(kuò)充零件庫,然后對(duì)電路進(jìn)行封裝,并通過Concept HDL給APD軟件導(dǎo)出電連接網(wǎng)表文件,最后完成電路布局布線。以檢測(cè)器電路為例,其原理圖主要部分如圖2所示,圖3為CCT(Spectra)布線后的形式。整個(gè)設(shè)計(jì)中,定義了16個(gè)Padstack和81個(gè)封裝符號(hào),進(jìn)行251次調(diào)用Padstack和89次調(diào)用功能單元,其中共用到了251個(gè)元件封裝符號(hào)引腳和229個(gè)功能單元引腳。

需要注意的是,具體設(shè)計(jì)時(shí),若利用Orcad進(jìn)行電路前期設(shè)計(jì),則必須將Orcad生成的文件轉(zhuǎn)換為APD軟件的mcm文件。但由于轉(zhuǎn)換后的mcm文件存在類似brd的問題,因此,采用Concept HDL軟件來導(dǎo)出網(wǎng)表文件,然后提取網(wǎng)線拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)進(jìn)行仿真。為減少仿真時(shí)間,采用分模塊仿真方法。
[page]
MCM布局布線的仿真分析

IBIS模型


Spectra Quest和其他電路分析軟件一樣,要得到精確的仿真結(jié)果,必須首先給電路元件提供精確的電氣模型。Spectra Quest軟件使用的是IBIS模型。IBIS(輸入/輸出緩沖信息規(guī)范)模型采用I/V和V/T表的形式來描述I/O單元和引腳的特性,是一種基于V /I曲線的對(duì)I/O BUFFER快速準(zhǔn)確建模的方法。它提供一種標(biāo)準(zhǔn)的文件格式來記錄如驅(qū)動(dòng)器或接收器輸出阻抗、上升/下降時(shí)間及輸入負(fù)載等參數(shù),這些參數(shù)由Spectra Quest來讀取。IBIS模型具有信號(hào)完整性分析所需要的信息,非常適合做振蕩和串?dāng)_等高頻效應(yīng)的計(jì)算與仿真。

Spectra Quest內(nèi)部的Sigxplorer接受IBIS模型,然后將其轉(zhuǎn)換為獨(dú)特的設(shè)計(jì)模型化語言DML,以完成復(fù)雜I/O結(jié)構(gòu)的建模。而且,Sigxplorer中的Constraint Manager能夠?qū)Ψ抡嬷惺褂玫膮?shù)進(jìn)行管理,并將其嵌入到后續(xù)布局布線約束條件中。

反射分析

反射即傳輸線上的回波,是由于阻抗的不連續(xù)而引起的。源端與負(fù)載端阻抗不匹配會(huì)引起線上的反射,負(fù)載將一部分電壓反射回源端。如果負(fù)載阻抗小于源阻抗,反射電壓為負(fù);反之,反射電壓為正。理想的情況是輸出阻抗、傳輸線阻抗及負(fù)載阻抗均相等,此時(shí),傳輸線的阻抗是連續(xù)的,不會(huì)發(fā)生任何反射。反射電壓信號(hào)的幅值由源端反射系數(shù)rS和負(fù)載反射系數(shù)rL決定,分別如下式所示:

式中,RS為源阻抗,Z0為傳輸線阻抗,RL為負(fù)載阻抗。若RL=Z0,則負(fù)載反射系數(shù)rL=0;若RS=Z0,則源端反射系數(shù)rS=0。

解決傳輸線反射的關(guān)鍵是阻抗控制,阻抗匹配可以抑制傳輸線反射,主要有:并聯(lián)端接、Thevenin等效并聯(lián)端接、AC端接和串聯(lián)端接法四種匹配端接方法。這里采用Thevenin等效并聯(lián)端接法,對(duì)檢測(cè)器電路輸入部分阻抗進(jìn)行控制,然后提取電路拓?fù)浣Y(jié)構(gòu),分別仿真匹配端接前、后電路的傳輸特性。

用頻率為50MHz,占空比為0.5的Pulse信號(hào)作觸發(fā),圖4和圖5分別為利用Signoise工具仿真得到的匹配端接前、后的仿真波形。從圖中可以看出,端接前,波形在上升沿有畸變發(fā)生,容易引起誤操作。匹配端接有效地消除了信號(hào)的畸變,單調(diào)性很好,而且在上升沿拉升了原信號(hào),提前進(jìn)入電平切換,增加了信號(hào)的穩(wěn)態(tài)時(shí)間,信號(hào)的上升沿也比較平穩(wěn)。雖然在高電平的維持階段有上過沖,但對(duì)信號(hào)確認(rèn)沒有影響,信號(hào)質(zhì)量比較理想。另外,信號(hào)傳輸線長(zhǎng)度對(duì)反射也有一定的影響。仿真發(fā)現(xiàn),傳輸線較長(zhǎng)時(shí),出現(xiàn)了預(yù)示的反射現(xiàn)象,如圖6所示;而傳輸線較短時(shí),仿真波形和分析結(jié)果吻合得很好,如圖7所示。表1為上述兩種情況下的波形仿真參數(shù)。所以,布線長(zhǎng)度不同,其處理方法也應(yīng)不同。一般來說,走線長(zhǎng)度小于2英寸,以集總參數(shù)的LC電路來處理;大于8英寸,則以分布參數(shù)的傳輸線電路來對(duì)待。

[page]
延時(shí)分析


隨著系統(tǒng)工作頻率的升高,當(dāng)信號(hào)上升沿或下降沿很陡時(shí),布線延時(shí)不能再被忽略。它對(duì)信號(hào)的建立和保持起著至關(guān)重要的作用,甚至可能影響系統(tǒng)的時(shí)序,產(chǎn)生誤操作,所以必須予以考慮。MCM高速電路設(shè)計(jì)要求存儲(chǔ)芯片的相位偏差不能過大,因此驅(qū)動(dòng)端到接收端的布線延時(shí)應(yīng)大致相等。延時(shí)和信號(hào)線長(zhǎng)度的關(guān)系如下式所示:

式中,e為介電常數(shù),r為電阻率,w為線寬,l0為芯片之間的平均距離。由式(3)可以看出,信號(hào)線長(zhǎng)度對(duì)傳輸質(zhì)量影響很大,可能使信號(hào)在傳輸過程中產(chǎn)生畸變。信號(hào)傳輸質(zhì)量隨著線長(zhǎng)的增加而變差,對(duì)于過長(zhǎng)的信號(hào)線,應(yīng)采用源端或終端匹配的方法來改善傳輸質(zhì)量。利用信號(hào)完整性仿真工具,可以方便地模擬從驅(qū)動(dòng)端到各芯片的延時(shí),然后結(jié)合仿真結(jié)果對(duì)布局布線進(jìn)行調(diào)整,以達(dá)到預(yù)定的要求。

檢測(cè)器的每個(gè)信號(hào)應(yīng)盡可能保持同一傳輸延遲,這就要求布線時(shí)盡量保持長(zhǎng)度一致,對(duì)于微弱的差別,可以根據(jù)仿真結(jié)果延長(zhǎng)或縮短布線。完成布線以后,再利用Spectra Quest軟件仿真輸入信號(hào)的傳輸延遲,具體參數(shù)如表2所示。可以看出,其相對(duì)延時(shí)不超過0.2ns,仿真結(jié)果比較理想。

EMI分析

以上在時(shí)域中分析了信號(hào)的反射和延時(shí),除此之外,EMI(電磁干擾)也是高速電路設(shè)計(jì)的一個(gè)重要方面。

電磁干擾包括過量的電磁輻射和對(duì)電磁輻射的敏感性兩方面,工作頻率太高、信號(hào)變化太快或布局布線不合理等都會(huì)引起電磁干擾效應(yīng)。分別對(duì)改變布線策略,增加終端匹配前、后的檢測(cè)器電路進(jìn)行EMI仿真。圖8為布局布線調(diào)整前的仿真波形,垂直條長(zhǎng)度指信號(hào)在該頻率的電磁輻射強(qiáng)度,橫線指系統(tǒng)可承受的最大輻射強(qiáng)度。從圖中可以看到,信號(hào)所產(chǎn)生的噪聲從0延續(xù)到2GHz,范圍很寬,而且每個(gè)頻率的輻射強(qiáng)度不盡相同,某些頻率的輻射強(qiáng)度超出了限制,即信號(hào)在該頻率的電磁干擾已經(jīng)超出系統(tǒng)所能承受的程度,應(yīng)該采取措施降低其輻射水平。按照前述的方法進(jìn)行阻抗控制,并盡量減小布線長(zhǎng)度,重新仿真的結(jié)果如圖9所示??梢钥吹剑^限制的頻率波已降到橫線以下,并且各頻率點(diǎn)的輻射強(qiáng)度均有所下降,整個(gè)輻射強(qiáng)度都有所降低。這說明,對(duì)于傳輸信號(hào),改變布線長(zhǎng)度和增加適當(dāng)?shù)钠ヅ涠私泳W(wǎng)絡(luò),不僅改善了信號(hào)的傳輸特性,也降低了電磁輻射強(qiáng)度,提高了信號(hào)的質(zhì)量。

結(jié)語

高速電路設(shè)計(jì)時(shí),首先利用精確的器件模型對(duì)系統(tǒng)功能進(jìn)行信號(hào)完整性和EMI仿真分析,以此來確定電路的布局布線,然后再進(jìn)行仿真,對(duì)布線網(wǎng)絡(luò)加以改進(jìn),直至得到滿意的布線結(jié)果。本設(shè)計(jì)主要對(duì)MCM布局布線設(shè)計(jì)技術(shù),結(jié)合檢測(cè)器封裝實(shí)例,分別在時(shí)域和頻域?qū)CM布局布線時(shí)的反射、延時(shí)和EMI等問題進(jìn)行了仿真和分析,取得了較好的效果。
要采購(gòu)工具么,點(diǎn)這里了解一下價(jià)格!
特別推薦
技術(shù)文章更多>>
技術(shù)白皮書下載更多>>
熱門搜索
?

關(guān)閉

?

關(guān)閉